試驗(yàn)量值對(duì)低壓電器極限通斷能力的影響分析
葉小木，王建新
(溫州海關(guān)綜合技術(shù)服務(wù)中心低壓電器實(shí)驗(yàn)室，浙江 溫州 325604)
摘 要：基于低壓電器極限通斷能力測(cè)試的技術(shù)要點(diǎn)，從實(shí)驗(yàn)室檢測(cè)的角度對(duì)影響低壓電器極限通斷能力的試驗(yàn)量值進(jìn)行分析，使其在滿足標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的要求基礎(chǔ)上，合理設(shè)置測(cè)試參數(shù)，滿足試驗(yàn)要求。通過理論分析與判斷，對(duì)低壓電器極限通斷能力測(cè)試中常見的認(rèn)識(shí)定義進(jìn)行了闡述，可為檢測(cè)實(shí)驗(yàn)室進(jìn)行線路和設(shè)備調(diào)節(jié)設(shè)置與結(jié)果判斷提供參考。
關(guān)鍵詞： 極限通斷能力；試驗(yàn)量值；低壓電器；實(shí)驗(yàn)室
中圖分類號(hào)：TM933 文獻(xiàn)標(biāo)識(shí)碼：A 文章編號(hào)：1007-3175(2022)07-0065-04
Analysis of the Influence of the Test Value on the Ultimate Limit Short-
Circuit Making and Breaking Capacity of Low-Voltage Apparatus
YE Xiao-mu, WANG Jian-xin
（Low-Voltage Apparatus Testing Laboratory of the Comprehensive Technical Service Center of Wenzhou Customs, Wenzhou 325604, China）
Abstract: This paper analyzed the test value which affects the ultimate limit short-circuit making and breaking capacity of low-voltage apparatus from the perspective of laboratory testing based on technical points. This analysis could help set the test parameters reasonably to meet the requirements of the test based on the standard. This research elaborated the common understanding and definitions of the ultimate limit short-circuit making and breaking capacity of low-voltage apparatus testing. The result provides a reference for the testing laboratory to set up the circuit
and equipment adjustment and judge the results.
Key words: ultimate limit short-circuit making and breaking capacity; test value; low-voltage apparatus; laboratory
參考文獻(xiàn)
[1] 齋藤廣吉. 電工學(xué)重要公式實(shí)用手冊(cè)[M] . 胡淑華，譯. 北京：高等教育出版社，1989.
[2] 全國低壓電器標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì). 低壓開關(guān)設(shè)備和控制設(shè)備 第1部分：總則：GB/T 14048.1—2012[S]. 北京：中國標(biāo)準(zhǔn)出版社，2012 ：64-67.
[3] 陳建兵. 低壓電器試驗(yàn)回路的過電壓現(xiàn)象及保護(hù)措施[J]. 低壓電器，1991(5) ：25-30.
[4] 楊洋. 低壓電器通斷能力試驗(yàn)電路設(shè)置對(duì)試驗(yàn)恢復(fù)電壓的影響[J] . 電器與能效管理技術(shù)，2015(8) ：26-29.
[5] 王建新，胡樂晨，林時(shí)放. 不平衡電路對(duì)通斷試驗(yàn)系統(tǒng)保護(hù)的影響[J]. 低壓電器，2010(15) ：56-58.
