高壓直流VBE系統(tǒng)光發(fā)射板故障研究
蘇杰和，張朝輝，梁梓賢
(中國南方電網(wǎng)有限責任公司超高壓輸電公司廣州局，廣東 廣州 510663)
摘 要：針對閥基電子設(shè)備(VBE)系統(tǒng)光發(fā)射板頻繁故障問題，通過破解光發(fā)射板的電路，分別對光耦輸入電路、邏輯控制電路、發(fā)光二極管一級與二級驅(qū)動電路進行逐一分析及測試，定位出導致光發(fā)射板故障的易損元件；通過建立熱流等效電路仿真模型研究環(huán)境溫度對故障元件的影響，進而明確導致元件故障的原因。對 VBE 屏柜以及易損元件發(fā)光二極管和場效應(yīng)管提出改進措施，以避免元件長期在高溫環(huán)境下運行導致老化加速甚至故障。
關(guān)鍵詞： 閥基電子設(shè)備；光發(fā)射板；場效應(yīng)管
中圖分類號：TM721.1 文獻標識碼：B 文章編號：1007-3175(2023)04-0043-04
Research on Light-Emitting Board Failure of HVDC VBE System
SU Jie-he, ZHANG Zhao-hui, LIANG Zi-xian
（Guangzhou Bureau of China Southern Power Grids EHV Transmission Company, Guangzhou 510663, China）
Abstract: Faults frequently occur to the light-emitting board of Valve-Based Electronic(VBE) system, so the paper, through cracking the circuit of the light-emitting board, analyzes and tests the optical coupler input circuit, logical control, first and second level drive circuits of laser tubes, and then locates vulnerable components that contribute to light-emitting board faults. It also builds a heat flow equivalent circuit simulation model to study the effects of ambient temperature on faulty elements to further find out reasons for component failures. Moreover,the paper puts forward improvement measures of VBE screen cabinets, light emitting diodes and field effect transistors of vulnerable components to avoid aging acceleration and failures caused by long-term operation of components under high temperature environment.
Key words: valve-based electronic; light-emitting board; field effect transistor
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